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沉积温度对Gd掺杂CeO2电解质薄膜生长及电学特性的影响

马小叶 , 姜雪宁 , 孟宪芹 , 庞胜利 , 孟昕 , 张庆瑜

无机材料学报 doi:10.3724/SP.J.1077.2008.00912

采用反应射频磁控溅射技术, 在非晶石英衬底上不同温度下制备了纳米多晶Gd掺杂CeO2(简称GDC)氧离子导体电解质薄膜, 采用X射线衍射仪、原子力显微镜对薄膜物相、晶粒大小、生长形貌进行了表征, 利用交流阻抗谱仪测试了GDC薄膜的电学性能. 结果表明, GDC薄膜生长取向随沉积温度而变化: 300~400℃时为强(111)织构生长, 而500~600℃时薄膜趋于无规则生长; 随着沉积温度的升高, 薄膜的生长形貌由同一取向的大棱形生长岛转变为密集球形小生长岛; GDC多晶薄膜的电导活化能约为1.3eV, 接近于晶界电导活化能值, 说明GDC交流阻抗主要源于晶界的贡献; 晶界空间电荷效应导致GDC薄膜电导率随晶粒尺寸而变化, 晶粒尺寸越小, 电导率越大.

关键词: Gd掺杂CeO2电解质薄膜 , reactive magnetron sputtering , film growth , electrical properties

反应磁控溅射方法制备CNx薄膜的高温抗氧化性能

陈向阳 , 张瑾 , 胡海霞 , 周哲波

机械工程材料

采用反应磁控溅射方法在高速钢基体上制备了CNx薄膜,通过改变氮气和氩气的流量比来调整CNx薄膜中的氮含量,并采用XRD、HR-TEM、SEM、FTIR和显微硬度计等对薄膜的结构及其在300,400,500,600℃下的高温抗氧化性能进行了表征.结果表明:CNx薄膜在400℃以下具有较好的抗氧化性能,当氧化温度达到500℃后薄膜会发生严重氧化和分解;CNx薄膜中氮含量的增加有利于改善薄膜的高温抗氧化性能.

关键词: CNx薄膜 , 抗氧化性能 , 氮含量 , 反应磁控溅射

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